微納探針臺(tái)-ZP3-4
微納探針臺(tái)ZP3-4可在納米尺度上對(duì)樣品和測(cè)試設(shè)備進(jìn)行電學(xué)表征。
產(chǎn)品參數(shù)
探針數(shù)量：4個(gè)探頭，每個(gè)探頭配備一個(gè)三軸探針臂;自由度：每個(gè)探頭獨(dú)立驅(qū)動(dòng)（X、Y、Z三自由度）;
運(yùn)動(dòng)：壓電驅(qū)動(dòng)；
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探針臺(tái)和低溫系統(tǒng)
探針臺(tái)和低溫系統(tǒng)專注于為半導(dǎo)體領(lǐng)域、微納米科學(xué)領(lǐng)域提供綜合性解決方案，為全國(guó)各大高校、科研院所及企事業(yè)單位提供先進(jìn)的半導(dǎo)體及微納米科學(xué)儀器，為祖國(guó)微納米科學(xué)事業(yè)的騰飛貢獻(xiàn)一份綿薄之力！
SEM納米探針臺(tái)
SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡(jiǎn)單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)動(dòng)操作。
SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品使...
干式液氦溫區(qū)探針臺(tái)
干式液氦溫區(qū)探針臺(tái)是卓聚專為樣品的非破壞檢測(cè)和真空潔凈而設(shè)計(jì)的，測(cè)試靈活，廣泛應(yīng)用于直流（DC），射頻（RF）,MEMS, 納米電子，超導(dǎo)性，納米電路的光電特性，量子點(diǎn)和量子線，非破壞性測(cè)...