SEM納米探針臺(tái)
SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,行程大,操作簡(jiǎn)單,能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn),可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)動(dòng)操作。
SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品使用壓電陶瓷驅(qū)動(dòng),運(yùn)無需潤(rùn)滑,真空兼容,并可在很廣的溫度范圍內(nèi)工作。運(yùn)動(dòng)分辨率達(dá)到納米級(jí)。步進(jìn)和掃描雙模式工作,在宏觀行程范圍內(nèi)達(dá)到亞納米分辨率的定位。
三軸探針臺(tái)由三個(gè)單軸運(yùn)動(dòng)臺(tái)組合而成。一SEM腔體內(nèi)可安裝多個(gè)三軸探針臺(tái)。平上可安裝電學(xué)探針、光纖探針、納米鑷子、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測(cè)量頭,實(shí)現(xiàn)微納操縱和測(cè)量的目的。
SEM納米探針臺(tái)特點(diǎn):
結(jié)構(gòu)緊湊,高剛性。
壓電陶瓷位移平臺(tái)具有很長(zhǎng)的使用壽命。
內(nèi)部根據(jù)需求可增加位置反饋。
應(yīng)用:納米材料操縱、納米器件電學(xué)光電等物性測(cè)量、生物細(xì)胞DNA操作等。
適配SEM:日本電子、 日立、FEI、 TESCAN等。
SEM納米探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)
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